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一种双级次光谱凸面光栅光谱仪

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310590962.2
  • IPC分类号:G01J3/28
  • 申请日期:
    2013-11-21
  • 申请人:
    中国科学院上海技术物理研究所
著录项信息
专利名称一种双级次光谱凸面光栅光谱仪
申请号CN201310590962.2申请日期2013-11-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-03-26公开/公告号CN103674246A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J3/28IPC分类号G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人中国科学院上海技术物理研究所申请人地址
上海市虹口区玉田路500号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海技术物理研究所当前权利人中国科学院上海技术物理研究所
发明人王跃明;郎均慰;王建宇;肖喜中;陈杨;鲍智康;王晟玮;庄晓琼;黄文俊
代理机构上海新天专利代理有限公司代理人郭英
摘要
本发明公开了一种双级次光谱凸面光栅光谱仪,该系统在由凸球面光栅和凹球面反射镜构成的同轴形式的光学系统后设置分光片,同时利用了凸球面光栅分光出的-1级次光谱和-2级次光谱。与传统凸面光栅光谱仪相比,该系统提高了光学效率以及光谱分辨率,降低了对于凸球面光栅的设计加工难度与系统加工装调的难度。本发明适用于机载或星载对地观测高分辨率光谱成像。

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