介质谐振器材料八毫米波段测试专用谐振腔及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410026468.4
IPC分类号：H01P11/00;G01R31/12
申请日期：
2004-03-09
申请人：
惠州学院

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著录项信息

专利名称	介质谐振器材料八毫米波段测试专用谐振腔及测试方法
申请号	CN200410026468.4	申请日期	2004-03-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-01-05	公开/公告号	CN1560959
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01P11/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01P 波导；谐振器、传输线或其他波导型器件（工作在光频的入G02B） H01P11/00 专用于制造波导或谐振器、传输线或其他波导型器件的设备或方法	IPC分类号	H;0;1;P;1;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;1;2查看分类表>
申请人	惠州学院	申请人地址	广东省惠州市西湖丰湖书院惠州学院电子信息系变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	惠州学院	当前权利人	惠州学院
发明人	倪尔瑚
代理机构	广州粤高专利代理有限公司	代理人	罗晓林

摘要

一种介质谐振器材料在八毫米波段的测试方法，以及为实施此法而设计的专用谐振腔。在谐振腔外有一只内径约为腔体1/4的TE01传播模波导，用以置入待测介质样品，并以全孔、同轴地与大尺寸TE01n模谐振腔耦合。本方法是在该腔外波导中置入终端短路、离耦合面的距离为s的介质样品；用调节s或测试频率，使该含样品腔外波导中所占的波长接近半波长的整数倍；测量它与谐振腔耦合时Q因子的降低，和在恒定频率下谐振长度的变化，或在恒定腔体长度下谐振频率的变化；按给出的腔外微扰数学关系式，用计算机迭代程序提取高介材料的复介电常数。

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