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一种内存转接测试座

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200920006783.9
  • IPC分类号:H01R31/06;H01R13/66;H01R13/68
  • 申请日期:
    2009-03-19
  • 申请人:
    张光荣
著录项信息
专利名称一种内存转接测试座
申请号CN200920006783.9申请日期2009-03-19
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01R31/06IPC分类号H;0;1;R;3;1;/;0;6;;;H;0;1;R;1;3;/;6;6;;;H;0;1;R;1;3;/;6;8查看分类表>
申请人张光荣申请人地址
江西省高安市胜利路清华城A1栋6单元502室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人张光荣当前权利人张光荣
发明人张光荣
代理机构北京邦信阳专利商标代理有限公司代理人高之波
摘要
本实用新型提供一种内存转接测试座,包括接触电路PCB板和内存槽连接器,所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽,所述接触电路PCB板上设有转接金手指及与所述转接金手指一一对应的焊盘,所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接,所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽,完全的限制了内存条插入内存条保护测试座时发生或左或右的偏位移动,有效减少了对塑胶槽中间设有的防呆柱的压磨损伤,提高了内存条保护测试座的使用寿命,杜绝了错位误测或短路烧内存条的事故发生,降低了生产成本,提高了测试正确性和可靠性。

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