一种电子元器件透明介质转盘承载测试及自动擦拭方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610242561.1
IPC分类号：G01D21/00;B08B1/02
申请日期：
2016-04-18
申请人：
深圳市华腾半导体设备有限公司

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专利名称	一种电子元器件透明介质转盘承载测试及自动擦拭方法
申请号	CN201610242561.1	申请日期	2016-04-18
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-20	公开/公告号	CN105783977A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D21/00 未列入其他类目的测量或测试	IPC分类号	G;0;1;D;2;1;/;0;0;;;B;0;8;B;1;/;0;2查看分类表>
申请人	深圳市华腾半导体设备有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区桃源街道平山工业园20栋1楼101K 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华腾半导体设备有限公司	当前权利人	深圳市华腾半导体设备有限公司
发明人	卓维煌;刘骏;黄新青;齐建;徐思江;蔡建镁
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种电子元器件透明介质转盘承载测试及自动擦拭方法，其中，所述承载电子元器件测试的转盘是使用透明介质的转盘或者镶嵌具有透明介质的转盘,所述透明介质转盘带有自动擦拭清洁机构，包括定位转盘、透明介质转盘、气缸、测试探头、自动擦拭转盘装置。该方法还包括：1、元器件发光面朝下，引脚面朝上，测试过程测试针不需穿过转盘接触元器件引脚测试，降低测试针因穿过转盘测试而断针的概率，延长使用寿命，同时缩短测试组件的动作时间。2、测试探头安装于透明介质转盘下方，与透明介质转盘相对静止，透明介质转盘清洁过程不影响测试探头的位置精度，从而提高测试的准确性和稳定性。通过验证分析，该种装置运行速度快，调整方便；结构紧凑，准确性高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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