遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110611426.0
IPC分类号：G06K9/00;G06K9/62
申请日期：
2021-06-02
申请人：
航天宏图信息技术股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质
申请号	CN202110611426.0	申请日期	2021-06-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-29	公开/公告号	CN113052153A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K9/00 用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置（用于图表阅读或者将诸如力或现状态的机械参量的图形转换为电信号的方法或装置入G06K 11/00；语音识别入G10L 15/00）〔1，7〕	IPC分类号	G;0;6;K;9;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人	航天宏图信息技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区西杉创意园四区5号楼3层301室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	航天宏图信息技术股份有限公司	当前权利人	航天宏图信息技术股份有限公司
发明人	田静国;王宇翔;屈洋旭;黄非;范磊;容俊;关元秀
代理机构	北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	王丽莎

摘要

本申请提供一种遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取待检影像的影像数据，影像数据包括时间数据、空间数据和光谱参量；基于时间数据和空间数据，对待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配，得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集；基于光谱参量，对待检影像与第二参考样点集进行光谱匹配，得到与第二参考样点集光谱匹配的目标点；基于目标点与第二参考样点集之间的反射率相对误差，确定待检影像的真实性。本实施例能够从大范围的第一参考样点集中确定适用于当前地理位置和影像采集时间的第二参考样点集，实现大范围的应用，以及实现反射率影像的真实性检验。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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