一种荧光材料激发测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201010039747.X
IPC分类号：G01J1/58;G01J3/10
申请日期：
2010-01-14
申请人：
杭州远方光电信息有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种荧光材料激发测量装置
申请号	CN201010039747.X	申请日期	2010-01-14
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2010-08-11	公开/公告号	CN101799325A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/58 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/58 利用光致发光	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;5;8;;;G;0;1;J;3;/;1;0查看分类表>
申请人	杭州远方光电信息有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州远方光电信息股份有限公司	当前权利人	杭州远方光电信息股份有限公司
发明人	潘建根
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种荧光材料激发测量装置。包括暗箱，暗箱在与样品垂线夹45度角的方向上设置一个环形光源或多个光源作为激发光源，工作试样盘和发射光接收装置；激发光源、样品和发射光接收装置构成CIE45/0照明观测条件；利用光源与工作试样盘之间的可调光阑、滤色片和监视探测器，能够方便准确地调节激发光照度或辐照度水平，甚至可调节激发光光谱成份。本发明的荧光材料激发装置成本低，体积小，能够方便准确地调节激发光照度和光谱，易实现精度较高的荧光材料发光特性的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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