一种基于近景摄影测量技术的台阶面平整度统计方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410467629.7
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2014-09-15
申请人：
武汉大学

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著录项信息

专利名称	一种基于近景摄影测量技术的台阶面平整度统计方法
申请号	CN201410467629.7	申请日期	2014-09-15
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-12-10	公开/公告号	CN104197867A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G01B11/30查看分类表>
申请人	武汉大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌区珞珈山武*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉大学	当前权利人	武汉大学
发明人	刘亮;严鹏;卢文波;陈明;张玉柱;胡浩然
代理机构	武汉科皓知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	温珊姗

摘要

本发明公开了一种基于近景摄影测量技术的台阶面平整度统计方法，采用近景摄影技术对爆后台阶面进行快速非接触测量，获取爆区台阶基础面空间三维信息，利用图像处理软件程序进行物像分析，获取台阶面所有点的三维坐标，建立台阶面三维DEM模型，生成台阶面空间三维影像。根据爆破设计资料和三维数据信息，建立设计预期达到的爆后基础面的空间平面函数，统计所有台阶面三维点到该平面的距离，并计算最高点到最低点的高差。其优点在于：本发明方法可以极大地提高平整度的统计精度，对于建立平整度评价体系，有重要意义；获取的三维数据资料，容易保存，有利于建立完整的数据库体系。

喷附仪

实用新型

一种基于近景摄影测量技术的台阶面平整度统计方法

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