在电极材料中标记缺陷的缺陷标记装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210030550.9
IPC分类号：G01N21/89
申请日期：
2012-02-10
申请人：
三星SDI株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	在电极材料中标记缺陷的缺陷标记装置及方法
申请号	CN201210030550.9	申请日期	2012-02-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-09-19	公开/公告号	CN102680485A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/89 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/89 在移动的材料中，例如，纸张、织物中（G01N 21/90、G01N 21/91、G01N 21/94优先）〔3，7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;9查看分类表>
申请人	三星SDI株式会社	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星SDI株式会社	当前权利人	三星SDI株式会社
发明人	全笔句;李濬燮;崔在铭
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	张波

摘要

一种在用于二次电池的电极材料上标记缺陷的装置和方法，该装置包括：传送单元，以受控制的传送速度提供电极材料；缺陷检测单元，检测连续传送的电极材料上的缺陷；缺陷标记单元，在包括缺陷的缺陷区域上贴附标记标签；和集成控制单元，共同地控制供给单元和缺陷标记单元，由此存在于电极材料上的各种类型的缺陷被检测，且用于提供可视标签的标记标签贴附操作自动执行。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供