一种用于分时接收阵列SAR的相位校正成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310158511.1
IPC分类号：G01S13/90
申请日期：
2013-05-02
申请人：
中国科学院电子学研究所

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著录项信息

专利名称	一种用于分时接收阵列SAR的相位校正成像方法
申请号	CN201310158511.1	申请日期	2013-05-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-03-12	公开/公告号	CN103630902A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S13/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S13/00 使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统〔3〕 G01S13/89 用于绘地图或成像〔3〕 G01S13/90 使用合成孔径技术〔3，6〕	IPC分类号	G;0;1;S;1;3;/;9;0查看分类表>
申请人	中国科学院电子学研究所	申请人地址	北京市海淀区北四环西路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院电子学研究所	当前权利人	中国科学院电子学研究所
发明人	王彦平;张英杰;谭维贤;洪文;吴一戎
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	宋焰琴

摘要

本发明公开了一种用于分时接收阵列SAR的相位校正成像方法，该方法利用微波开关控制的阵列天线分时完成运动平台下的阵列SAR回波数据的采集；依据以上数据采集过程中平台的位置参数和平台速度以及成像场景的参数等，构造一次校正矩阵，在距离徙动校正和距离压缩之前在二维时域与回波数据相乘，完成一次相位校正；在此基础之上完成针对阵列SAR的距离向成像处理；再次依据数据采集过程中平台的位置参数和平台速度以及成像场景的参数等，构造二次校正矩阵，在距离向处理完成之后在二维时域完成残余相位校正；最后再进行跨航向的聚焦处理得到聚焦良好的二维图像。

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