一种中子探测装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201621284235.9
IPC分类号：G01T3/06
申请日期：
2016-11-28
申请人：
中国科学院紫金山天文台

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著录项信息

专利名称	一种中子探测装置
申请号	CN201621284235.9	申请日期	2016-11-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T3/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T3/00 中子辐射的测量（G01T 5/00优先）〔2〕 G01T3/06 用闪烁探测器〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;3;/;0;6查看分类表>
申请人	中国科学院紫金山天文台	申请人地址	江苏省南京市鼓楼区北京西路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院紫金山天文台	当前权利人	中国科学院紫金山天文台
发明人	黄永益
代理机构	南京钟山专利代理有限公司	代理人	戴朝荣

摘要

本实用新型提供了一种中子探测装置。所述中子探测装置包括壳体、用于在空间次级中子作用下产生荧光的探测晶体单元和用于接收并转换所述荧光为电信号的后端电子学单元，所述探测晶体单元设置在所述壳体内部，所述后端电子学单元设置在所述壳体的边缘位置，且所述探测晶体单元与所述后端电子学单元对应设置；所述探测晶体单元包括多个设置在同一平面的探测晶体，所述后端电子学元件包括多个后端电子学部件，每一所述探测晶体对应一个所述后端电子学部件设置。所述中子探测装置能够应用于空间环境下对次级中子进行探测，也可辅助区分电子和质子。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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