一种用于曲线合成孔径雷达的子孔径划分方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110286978.9
IPC分类号：G01S13/90
申请日期：
2021-03-17
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种用于曲线合成孔径雷达的子孔径划分方法
申请号	CN202110286978.9	申请日期	2021-03-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-29	公开/公告号	CN113050087A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S13/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S13/00 使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统〔3〕 G01S13/89 用于绘地图或成像〔3〕 G01S13/90 使用合成孔径技术〔3，6〕	IPC分类号	G;0;1;S;1;3;/;9;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新西区西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	闵锐;皮亦鸣;李晋;刘兴航;杨晓波;曹宗杰;崔宗勇
代理机构	成都点睛专利代理事务所（普通合伙）	代理人	孙一峰

摘要

本发明属于雷达成像技术领域，具体涉及一种用于曲线合成孔径雷达的子孔径划分方法。本发明兼顾分辨率匹配和频谱混叠约束来进行子孔径的划分，能够较好的舍弃一些无法成像的采样点，不仅减少了子孔径划分的时间，而且提高了在持续帧成像过程中的成像效果。本发明只涉及对方位向采样点数据的大小判断以及对合成孔径累积角约束的判断，因此，实现也很简单。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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