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基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510752241.6
  • IPC分类号:A61B5/04
  • 申请日期:
    2015-11-06
  • 申请人:
    天津大学
著录项信息
专利名称基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统
申请号CN201510752241.6申请日期2015-11-06
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-02-03公开/公告号CN105286848A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B5/04IPC分类号A;6;1;B;5;/;0;4查看分类表>
申请人天津大学申请人地址
天津市南开区卫津路92号天津大学26楼E座 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津大学当前权利人天津大学
发明人魏熙乐;司开利;卢梅丽;伊国胜;王江;邓斌;于海涛
代理机构天津才智专利商标代理有限公司代理人吕志英
摘要
本发明提供基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统,该系统包括有相互连接的神经元放电率检测装置、PID控制装置、脉冲生成装置。有益效果是该测量系统通过闭环控制保持了神经元放电率,有效地利用了闭环电生理的优势,并且可以方便地改变放电率值,进行多组相响应曲线测量,实现了脉冲刺激时间与相位的准确性,对于相响应的实验研究具有重要价值。

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