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基于快速几何对准的PCB表面缺陷检测方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810617991.6
  • IPC分类号:G06T7/00G06T3/40G01N21/88
  • 申请日期:
    2018-06-15
  • 申请人:
    福建工程学院
著录项信息
专利名称基于快速几何对准的PCB表面缺陷检测方法及装置
申请号CN201810617991.6申请日期2018-06-15
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-11-06公开/公告号CN108765416A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/00IPC分类号G06T7/00;G06T3/40;G01N21/88查看分类表>
申请人福建工程学院申请人地址
福建省福州市大学新区学院*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人福建工程学院当前权利人福建工程学院
发明人黄靖;李俊男;陈小勇;李建兴;罗堪;刘丽桑
代理机构北京市商泰律师事务所代理人王晓彬
摘要
本发明公开了一种基于快速几何对准的PCB表面缺陷检测方法,采用机器视觉检测PCB表面缺陷,图像采集系统对待测PCB进行待测图像采集,基于快速几何对准方法进行PCB图像定位后进行缺陷识别。本发明提供一种能满足中小企业生产线检测效率要求的整机焊接检测系统平台方案设计,以低成本完成高质量焊接检测,适合中小企业检测。采用运动误差先验作为约束条件,进行快速特征点几何定位,降低误匹配和多区域分时检测,实现大面积PCB元件焊接检测。

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