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半导体器件和有隔离源区的反向导电绝缘栅双极晶体管

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910187329.6
  • IPC分类号:H01L29/739;H01L29/04;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423;H01L29/40;H01L29/861;H01L21/331
  • 申请日期:
    2015-05-12
  • 申请人:
    英飞凌科技股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体器件和有隔离源区的反向导电绝缘栅双极晶体管
申请号CN201910187329.6申请日期2015-05-12
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-07-26公开/公告号CN110061051A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/739
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;7;3;9;;;H;0;1;L;2;9;/;0;4;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6;;;H;0;1;L;2;9;/;1;0;;;H;0;1;L;2;9;/;4;2;3;;;H;0;1;L;2;9;/;4;0;;;H;0;1;L;2;9;/;8;6;1;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;1查看分类表>
申请人英飞凌科技股份有限公司申请人地址
德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-15号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人英飞凌科技股份有限公司当前权利人英飞凌科技股份有限公司
发明人R.巴布尔斯克;M.戴内塞;J.G.拉文;P.莱希纳;H-J.舒尔策
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人申屠伟进
摘要
本发明涉及半导体器件和有隔离源区的反向导电绝缘栅双极晶体管。一种半导体器件,包括半导体台面,其具有与源区形成第一pn结并且与漂移区形成第二pn结的至少一个本体区。在与至少一个本体区相对的漂移区的一侧处的基底层包括至少一个本体区的导电类型的第一区、以及漂移区的导电类型的第二区。电极结构在半导体台面的相对侧上。电极结构中的至少一个包括控制了流过至少一个本体区的电荷载流子的栅电极。在源区中的两个源区之间的分离区域中,(i)栅电极与半导体台面之间的电容耦合或者(ii)漂移区的多数电荷载流子的导电率低于分离区域的外侧。

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