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用于检测原发性免疫缺陷病致病基因的探针组及试剂盒

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811585465.2
  • IPC分类号:C12Q1/6883;C12N15/11
  • 申请日期:
    2018-12-24
  • 申请人:
    中国医学科学院北京协和医院
著录项信息
专利名称用于检测原发性免疫缺陷病致病基因的探针组及试剂盒
申请号CN201811585465.2申请日期2018-12-24
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-05-17公开/公告号CN109762882A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C12Q1/6883IPC分类号C;1;2;Q;1;/;6;8;8;3;;;C;1;2;N;1;5;/;1;1查看分类表>
申请人中国医学科学院北京协和医院申请人地址
北京市东城区帅府园1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国医学科学院北京协和医院当前权利人中国医学科学院北京协和医院
发明人王薇;宋红梅;伍建
代理机构北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙)代理人康正德;关艳芬
摘要
本发明提出一种用于检测原发性免疫缺陷病致病基因的探针组及试剂盒,所述探针组包含能同时特异性捕获重症联合免疫缺陷病致病基因、比严重联合免疫缺陷表现温和的联合免疫缺陷病致病基因、综合征相关免疫缺陷病致病基因、抗体缺陷为主的免疫缺陷致病基因、免疫失调疾病致病基因、先天性巨噬细胞数量或功能缺陷致病基因、天然免疫缺陷致病基因、自身炎症类免疫缺陷致病基因、补体缺陷致病基因和拟表型PID致病基因的探针。本发明于筛选针对性强、稳定可靠的基因的序列获取用于检测原发性免疫缺陷病致病基因的探针组,结合高通量测序的方法,可加速对免疫缺陷疾病的诊断周期,提高诊断效率,能够用于准确诊断数种新的病种。

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