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对称及自对准的非易失性存储器结构

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200510132678.6
  • IPC分类号:H01L27/115;H01L29/788
  • 申请日期:
    2005-12-20
  • 申请人:
    擎泰科技股份有限公司
著录项信息
专利名称对称及自对准的非易失性存储器结构
申请号CN200510132678.6申请日期2005-12-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2006-09-06公开/公告号CN1828907
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/115
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IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;;;H;0;1;L;2;9;/;7;8;8查看分类表>
申请人擎泰科技股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人擎泰科技股份有限公司当前权利人擎泰科技股份有限公司
发明人熊福嘉
代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司代理人程伟
摘要
一半导体基板上的存储器结构必要的包含一第一导线、两导电块、两第一介电间隔区、一第一介电层,和一第二导线。该第一导线,如一多晶硅线,是形成于该半导体基板上;且该两由多晶硅组成的导电块是,如形成于该第一导线的两侧,并由两第一介电间隔区与该第一导线绝缘。该第一介电层,如一个氧化物/氮化物/氧化物(ONO)层,是形成与两导线块上和第一导线上;且第二导线是形成于第一介电层上,并大致垂直于该两掺杂区。相应的,导电块、第一介电层及第二导线堆形成一浮栅结构,其可用于存储电荷。该第一导线和导电块分别用作一选择栅和浮栅,然,掺杂区和第二导线分别用作位线和一字线。

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