一种基于矢量全聚焦成像的超声阵列裂纹类缺陷方向识别方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410191263.5
IPC分类号：G01N29/06;G01N29/44
申请日期：
2014-05-07
申请人：
北京工业大学

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专利名称	一种基于矢量全聚焦成像的超声阵列裂纹类缺陷方向识别方法
申请号	CN201410191263.5	申请日期	2014-05-07
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-08-06	公开/公告号	CN103969337A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/06 内部的显像，例如，声显微技术〔4，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;6;;;G;0;1;N;2;9;/;4;4查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	焦敬品;孙欣蓉;杜礼;吴斌;何存富
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	沈波

摘要

本发明涉及一种基于矢量全聚焦成像的超声阵列裂纹类缺陷方向识别方法，属于无损检测领域。该方法通过对换能器阵列接收到的信号进行矢量全聚焦处理得到全局矢量图，由缺陷处反射信号能量最强来确定缺陷的位置，然后根据缺陷的位置提取缺陷的局部矢量图，最后利用局部矢量图中矢量的方向来确定缺陷的方向。该矢量全聚焦成像的原理是在换能器阵列中构造多个子阵列，通过子阵列计算任意成像点处的单位方向矢量，利用该单位方向矢量对换能器阵列在任意成像点处补偿后的回波幅值进行矢量化，得到任意成像点处的幅值矢量。

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