一种太赫兹波频率的测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920238060.5
IPC分类号：G01J9/00
申请日期：
2019-02-26
申请人：
华中科技大学

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著录项信息

专利名称	一种太赫兹波频率的测量装置
申请号	CN201920238060.5	申请日期	2019-02-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;0查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	肖后秀;韩小涛;祁欣;王振兴;李亮;潘垣
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种太赫兹波频率的测量装置，包括脉冲磁体、脉冲电源模块、波导管、信号采集模块和信号处理模块；脉冲磁体用于给样品的自旋电子提供自旋频率的背景磁场；脉冲电源模块用于给脉冲磁体提供电流；波导管用于为太赫兹波传输提供通路；信号采集模块用于探测所述背景磁场的大小以及信号源经过所述样品被吸收后的功率变化；信号处理模块用于对采集的信号进行处理后获得被测信号的太赫兹波频率。本实用新型由于测量原理是基于物理效应，所以不受电子测量器件的限制，与混频外差法相比其测量频带宽，能够取得测量范围覆盖整个狭义太赫兹波频段的有益效果；同时还可以测量多个信号频率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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