一种电力绝缘子表面污秽度测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210179760.4
IPC分类号：G01N9/02;G01N27/06;G01N5/04
申请日期：
2012-06-01
申请人：
华南理工大学

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著录项信息

专利名称	一种电力绝缘子表面污秽度测量方法
申请号	CN201210179760.4	申请日期	2012-06-01
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-10-17	公开/公告号	CN102735582A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N9/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N9/00 测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料 G01N9/02 通过测量已知体积的重量	IPC分类号	G;0;1;N;9;/;0;2;;;G;0;1;N;2;7;/;0;6;;;G;0;1;N;5;/;0;4查看分类表>
申请人	华南理工大学	申请人地址	广东省广州市天河区五山路381号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南理工大学	当前权利人	华南理工大学
发明人	李恒真;刘刚;陈宇驰;陈艳;叶晓君;李华桐;梁祖廉;王泽信;陈冠宇
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	齐荣坤

摘要

本发明公开了一种电力绝缘子表面污秽度测量方法，使用清洁取样布清擦取绝缘子表面污秽，称量清洁取样布取样前与取样后的质量差m1，将取样后含污的取样布浸入去离子水中使可溶性污秽溶解，测量含有污秽的去离子水溶液电导率换算可溶性污秽质量m2并换算成盐密，而不可溶性污秽的质量即为m1-m2，并换算成灰密，得到电力绝缘子表面污秽度。与现有技术相比本发明打破传统测量方法的测量顺序，使用烘干称重代替传统方法中的过滤烘干，有效减小取样测量误差，缩短取样测量周期，更便于掌握和推广。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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