电子设备的测试系统与方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710502528.2
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2017-06-27
申请人：
鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	电子设备的测试系统与方法
申请号	CN201710502528.2	申请日期	2017-06-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-01-04	公开/公告号	CN109142903A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路特一号富士康科技园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（武汉）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（武汉）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	杨进维
代理机构	深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司	代理人	郑杏芳

摘要

一种电子设备的测试系统，用于对所述电子设备进行测试，所述测试系统包括连接启动模块、图片获取模块及比对判断模块。连接启动模块用于将所述电子设备与测试组件通信连接，并启动所述测试组件的测试程序，以对所述电子设备进行测试。图片获取模块用于获取所述电子设备的测试结果图像。比对判断模块用于将所述测试结果图像与模板图像进行比较，以获取测试结果。本发明还提供一种电子设备的测试方法。上述电子设备的测试系统与方法，通过在测试过程中获取测试结果图像并与模板图像进行比对，来实现自动获取测试结果，避免人为测试中的疏漏及误差，同时可节省测试人力成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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