一种玻璃澄清剂中砷含量分析法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910055419.6
IPC分类号：G01N21/73
申请日期：
2009-07-27
申请人：
中国科学院上海硅酸盐研究所

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著录项信息

专利名称	一种玻璃澄清剂中砷含量分析法
申请号	CN200910055419.6	申请日期	2009-07-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-01-06	公开/公告号	CN101620186
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/73 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/71 热激发的〔3〕 G01N21/73 用等离子体喷嘴或吹管〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;7;3查看分类表>
申请人	中国科学院上海硅酸盐研究所	申请人地址	上海市长宁区定西路1295号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所	当前权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人	屈海云;陈弈睿
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	余明伟

摘要

本发明公开一种玻璃澄清剂中砷含量的分析方法，包括：用高锰酸钾预氧化-氢氟酸湿法消化法进行样品处理，得到样品消解液；及用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定消解液中砷的含量。本发明的分析方法由于采用高锰酸钾作为预氧化剂来进行玻璃澄清剂样品的常规湿式酸消解，可有效避免样品前处理过程中低价态砷组分的挥发损失，因而采用常规电感耦合等离子体原子发射光谱仪即可直接测定出玻璃澄清剂中有效成分砷的含量，无需配备氢化物发生器或原子荧光光谱仪。本发明的分析方法可操作性强、分析速度快、准确性高、灵敏及重复性好。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN101344485A	2009-01-14	2007-07-10	TFT基板玻璃锑、钡、砷、锌、锶、锆快速测定方法失效专利	中国船舶重工集团公司第七二五研究所

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN103163119A	2013-04-02	2013-04-02	环境样品中砷含量检测法有效专利	天津虹炎科技有限公司
2	CN103163119B	2013-04-02	2013-04-02	环境样品中砷含量检测法有效专利	天津虹炎科技有限公司

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