一种借助精密电子天平测量固体材料密度的装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320760620.6
IPC分类号：G01N9/00
申请日期：
2013-11-28
申请人：
昆明理工大学

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著录项信息

专利名称	一种借助精密电子天平测量固体材料密度的装置
申请号	CN201320760620.6	申请日期	2013-11-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N9/00 测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料	IPC分类号	G;0;1;N;9;/;0;0查看分类表>
申请人	昆明理工大学	申请人地址	云南省昆明市五华区学府路253号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	昆明理工大学	当前权利人	昆明理工大学
发明人	孟彬;朱延俊;林作亮;孔明
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型涉及一种测量固体材料密度的装置，属于实验器械技术领域。结构包括精密电子天平和液体测重装置，液体测重装置由置于透明保护罩中的盛液容器组成，透明保护罩上端开口、底端通过可调节高度的支撑脚固定并保持水平，盛液容器通过高度可调的盛液容器支撑架支撑固定；精密电子天平通过底端的电子天平挂钩悬挂检测试样，并将试样置于盛液容器中，精密电子天平放置于透明保护罩上。该装置与电子天平的连接方式灵活，便于安装、携带，通用性和可移植性强，测量精度性高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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