一种超短脉冲激光远场焦斑时空-频率信息的获取方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010717132.1
IPC分类号：G01J11/00
申请日期：
2020-07-23
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种超短脉冲激光远场焦斑时空-频率信息的获取方法
申请号	CN202010717132.1	申请日期	2020-07-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-24	公开/公告号	CN111982313A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J11/00 测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性〔5〕	IPC分类号	G;0;1;J;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	李红光;段亚轩;达争尚;张伟刚
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	史晓丽

摘要

本发明公开了一种超短脉冲激光远场焦斑时空‑频率信息的获取方法，旨在解决现有的透射式放大成像系统的色差会导致放大成像的远场焦斑相对于靶点位置的远场焦斑分布发生变化的技术问题。本发明通过干涉成像光谱仪获取被测超短脉冲激光焦面位置处、至少一个正离焦位置处、至少一个负离焦位置处的干涉图像；再采用干涉光谱成像技术对每一个干涉图像分别处理得到相应的焦斑强度空间‑频率信息；基于获得的所有焦斑强度空间‑频率信息，通过相位恢复技术重构被测超短脉冲激光中每个频率下的远场焦斑空间相位二维信息；最后根据频率的大小顺序对获得的所有远场焦斑空间相位二维信息进行重构，获取超短脉冲激光远场焦斑相位的时空‑频率信息。

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