电子元件测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201810520399.4
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2018-05-28
申请人：
致茂电子股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	电子元件测试装置
申请号	CN201810520399.4	申请日期	2018-05-28
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-06	公开/公告号	CN110542802A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	致茂电子股份有限公司	申请人地址	中国台湾桃园市龟山区华亚一路66号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	致茂电子股份有限公司	当前权利人	致茂电子股份有限公司
发明人	陈建名;吕孟恭;陈勇志
代理机构	北京三幸商标专利事务所（普通合伙）	代理人	刘卓然

摘要

本发明涉及一种电子元件测试装置，主要包括下基座、上基座以及压力产生模块，当欲测试电子元件时，将电子元件置于下基座的芯片容置槽内，下基座与上基座借由第一滑移导引装置和第二滑移导引装置的导引形成相对滑移，而使位于下基座和上基座之间的压力产生模块对位于电子元件，并向电子元件施加压力。据此，本发明可大幅缩小装置所占用的体积，而增加测试装置的数量或测试区域，使测试效率最大化；此外，亦能承受作用力和反作用力，达成内力平衡，提升设备的稳定度和使用寿命。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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