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测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201880069228.2
IPC分类号：G01R1/067;G01R1/18;G01R31/28
申请日期：
2018-11-22
申请人：
李诺工业股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试装置
申请号	CN201880069228.2	申请日期	2018-11-22
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-12	公开/公告号	CN111279203A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;6;7;;;G;0;1;R;1;/;1;8;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	李诺工业股份有限公司	申请人地址	韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	李诺工业股份有限公司	当前权利人	李诺工业股份有限公司
发明人	宋昌炫;郑宰欢
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司	代理人	杨文娟;臧建明

摘要

本发明公开一种用于高速/高频测试的测试装置。所述测试装置包括：导电块，包括探针孔；至少一个信号探针，无接触地支撑在所述探针孔的内壁中，包括将与待测试对象的测试接触点接触的第一端，且能够沿长度方向缩回；以及同轴缆线，包括将与所述信号探针的第二端电接触的芯线。通过此测试装置，所述同轴缆线直接接触所述信号探针，因而完全阻挡测试电路板中的噪声。

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