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测试装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201880069228.2
  • IPC分类号:G01R1/067;G01R1/18;G01R31/28
  • 申请日期:
    2018-11-22
  • 申请人:
    李诺工业股份有限公司
著录项信息
专利名称测试装置
申请号CN201880069228.2申请日期2018-11-22
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-06-12公开/公告号CN111279203A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R1/067IPC分类号G;0;1;R;1;/;0;6;7;;;G;0;1;R;1;/;1;8;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人李诺工业股份有限公司申请人地址
韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人李诺工业股份有限公司当前权利人李诺工业股份有限公司
发明人宋昌炫;郑宰欢
代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司代理人杨文娟;臧建明
摘要
本发明公开一种用于高速/高频测试的测试装置。所述测试装置包括:导电块,包括探针孔;至少一个信号探针,无接触地支撑在所述探针孔的内壁中,包括将与待测试对象的测试接触点接触的第一端,且能够沿长度方向缩回;以及同轴缆线,包括将与所述信号探针的第二端电接触的芯线。通过此测试装置,所述同轴缆线直接接触所述信号探针,因而完全阻挡测试电路板中的噪声。

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