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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

真空计

外观设计专利无效专利
  • 申请号:
    CN201130462648.8
  • LOC分类号:--
  • 申请日期:
    2011-12-07
  • 申请人:
    安迈拓普(北京)科技有限公司
著录项信息
专利名称真空计
申请号CN201130462648.8申请日期2011-12-07
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无LOC分类号暂无查看分类表>
申请人安迈拓普(北京)科技有限公司申请人地址
北京市海淀区民族学院南路9号5号楼510 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人安迈拓普(北京)科技有限公司当前权利人安迈拓普(北京)科技有限公司
发明人吴宝
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人李世喆
摘要
1.本外观设计产品的名称:真空计。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品主要用作真空测量。3.本外观设计产品的设计要点在于各视图形状、图案以及形状与图案的结合。4.本外观设计产品最能表明设计要点的视图是:立体图。

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