镀膜附着力测量方法及测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200910132810.1
IPC分类号：G01N21/88;G01N19/04
申请日期：
2009-04-20
申请人：
格伦德福斯管理联合股份公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	镀膜附着力测量方法及测量装置
申请号	CN200910132810.1	申请日期	2009-04-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-10-20	公开/公告号	CN101865858A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;1;N;1;9;/;0;4查看分类表>
申请人	格伦德福斯管理联合股份公司	申请人地址	丹麦比耶灵布罗变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	格伦德福斯管理联合股份公司	当前权利人	格伦德福斯管理联合股份公司
发明人	宋君
代理机构	隆天国际知识产权代理有限公司	代理人	郭晓东;邢雪红

摘要

本发明公开了一种镀膜附着力测量方法及测量装置，该测量方法用于区分由标准测试板得到的测试样板上的基体和膜层，其包括以下步骤：步骤S1.对所述测试样板进行取样，得到静态图像；步骤S2.对所述静态图像进行二值化处理，得到二值化图像，用以区分所述基体和所述膜层；以及步骤S3.计算所述基体的面积与所述测试样板的面积的比值。该测量装置用于区分由标准测试板得到的测试样板上的基体和膜层，其包括：图像采集单元、二值化处理单元和计算单元。本发明可以缩短检测时间、降低检测人员的检测难度；再者，整个判断过程无需检测人员进行人工干预，也无需进行肉眼凭借经验观测，提高了检测精准度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供