集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201811155358.6
IPC分类号：G06F30/398;G06N3/08
申请日期：
2018-09-30
申请人：
长鑫存储技术有限公司

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著录项信息

专利名称	集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备
申请号	CN201811155358.6	申请日期	2018-09-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-04-07	公开/公告号	CN110968985A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/398	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;3;9;8;;;G;0;6;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	长鑫存储技术有限公司	申请人地址	安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长鑫存储技术有限公司	当前权利人	长鑫存储技术有限公司
发明人	汪锡
代理机构	北京律智知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备。所述方法包括获取待修补集成电路的失效测试单元数据；根据所述失效测试单元数据并结合由深度学习网络构建的类型分析模型获取所述待修补集成电路的失效单元分布类型；根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标，并将所述修补性能指标最优的所述候选修补算法确定为目标修补算法。本公开使得对每个待修补集成电路的修补均可达到修补率最高、修补电路的使用数量最少、修补分析时间最短等，同时提高了修补效率和准确率，同时也降低了修补成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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