一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610577183.2
IPC分类号：G01J5/60
申请日期：
2016-07-20
申请人：
中国科学院国家空间科学中心

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著录项信息

专利名称	一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法
申请号	CN201610577183.2	申请日期	2016-07-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-11-09	公开/公告号	CN106092336A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/60 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/50 用下列各组指明的技术 G01J5/60 利用测定色温度	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;6;0查看分类表>
申请人	中国科学院国家空间科学中心	申请人地址	北京市海淀区中关村南二条1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院国家空间科学中心	当前权利人	中国科学院国家空间科学中心
发明人	武林;刘浩;金梦彤;张成;吴季
代理机构	北京方安思达知识产权代理有限公司	代理人	王宇杨;陈琳琳

摘要

本发明涉及一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法，包括：测量一维干涉式微波辐射计中各单元天线的二维天线方向图，并对天线单元阵列进行稀疏排布，形成满足成像要求的基线覆盖；将二维天线方向图转换为一维天线方向图，并利用转换得到的一维天线方向图计算得到一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵；利用一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵和系统测量并校准后的可见度函数，进行图像反演得到高精度亮温图像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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