具有非易失性存储模块的电路布置和用于在所述非易失性存储模块上登记攻击的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200680030214.7
IPC分类号：G06F21/00
申请日期：
2006-08-09
申请人：
NXP股份有限公司

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著录项信息

专利名称	具有非易失性存储模块的电路布置和用于在所述非易失性存储模块上登记攻击的方法
申请号	CN200680030214.7	申请日期	2006-08-09
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2008-08-13	公开/公告号	CN101243450
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F21/00 防止未授权行为的保护计算机、其部件、程序或数据的安全装置〔8，2013.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	NXP股份有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	NXP股份有限公司	当前权利人	NXP股份有限公司
发明人	沃尔夫冈·布尔
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	戎志敏

摘要

为进一步开发用于电子数据处理的电路布置(100)，特别是集成电路，并开发一种方法，该方法检测和/或登记和/或用信号表示用至少一种光源对至少一种非易失性存储模块(10)的照射，以使得能够安全避免攻击，特别是电磁(EM)照射攻击，例如旁道攻击，或特别是密码分析，例如电流跟踪分析或差分能量分析(DPA)，此类攻击或此类分析目标特别是找到私钥，本发明提出，产生针对至少一次对存储模块(10)的读访问的访问定时，特别是在至少一种测试模式(T)中增加至少一次对存储模块(10)的额外读访问，所述测试模式(T)特别是至少一种禁用字线(DAW)模式，该测试模式(T)优选允许检测所述存储模块(10)目前是否暴露给一定能量的任何光。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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