用于检测磁场的方法和设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201180047277.4
IPC分类号：G01D5/20
申请日期：
2011-08-12
申请人：
微－埃普西龙测量技术有限两合公司

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著录项信息

专利名称	用于检测磁场的方法和设备
申请号	CN201180047277.4	申请日期	2011-08-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-06-05	公开/公告号	CN103140741A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D5/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D5/00 用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器（G01D 3/00优先；专门适用于给出除变量的瞬时值以外的结果的仪表入G01D 1/00）〔6〕 G01D5/12 采用电或磁装置（G01D 5/06优先）〔3〕 G01D5/14 影响电流或电压的大小 G01D5/20 通过改变电感，如采用可动电枢	IPC分类号	G;0;1;D;5;/;2;0查看分类表>
申请人	微－埃普西龙测量技术有限两合公司	申请人地址	德国奥滕伯格变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	微－埃普西龙测量技术有限两合公司	当前权利人	微－埃普西龙测量技术有限两合公司
发明人	C·普法菲格尔;J·霍弗;F·蒙德尼科夫;T·维斯培特纳;G·舒奥莫瑟;V·蒙德尼科夫
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	李玲

摘要

本发明涉及一种用于检测磁场的方法，特别用于通过连接到电子器件（5）的优选为椭圆形的软磁元件（2）来检测物体（3）的位置，其中电子器件用于测量软磁材料的阻抗，其特征在于，根据物体的位置来使用磁场，该物体位于关于软磁材料的装置中，软磁材料在其位置调整磁场，从而所述软磁材料的磁导率（μ）根据所述磁场并且从而根据所述物体（3）的位置（d）被调整。合适设计的设备（1）用于应用根据本发明的方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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