一种飞行时间质量分析器

发明专利有效专利

申请号：
CN201510454860.7
IPC分类号：H01J49/40;H01J49/06
申请日期：
2015-07-29
申请人：
中国地质科学院地质研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种飞行时间质量分析器
申请号	CN201510454860.7	申请日期	2015-07-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-11-25	公开/公告号	CN105097416A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/40 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕 H01J49/26 质谱仪或质量分离管〔3〕 H01J49/34 动态分光仪〔3〕 H01J49/40 飞行时间型分光仪（H01J 49/36优先）〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;4;0;;;H;0;1;J;4;9;/;0;6查看分类表>
申请人	中国地质科学院地质研究所	申请人地址	北京市西城区百万庄大街26号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国地质科学院地质研究所	当前权利人	中国地质科学院地质研究所
发明人	龙涛;齐国臣;王培智;包泽民;姜若邻;范润龙;张玉海;刘敦一
代理机构	北京同达信恒知识产权代理有限公司	代理人	郭丽

摘要

本发明公开了一种飞行时间质量分析器，包括：工作状态下处于真空无场状态的中空腔体；分别与中空腔体连接的第一离子反射器和第二离子反射器；安装在第一离子反射器与中空腔体的连接处的第一聚焦偏转透镜组和第二聚焦偏转透镜组；安装在第二离子反射器和中空腔体的连接处的第三聚焦偏转透镜组和第四聚焦偏转透镜组。本发明实施例中，采用两个离子反射器，使得离子束经一个离子反射器反射后，再经另一个离子反射器进行反射，有效拓展了离子束在飞行时间质量分析器中的飞行时间，提高了质量分析器的质量分辨能力。另外，为避免离子束因飞行时间增加导致发散，设置有四组聚焦偏转透镜组，保证了离子束在飞行过程中的空间和能量的聚焦。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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