闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202110591310.5
IPC分类号：G11C29/08;G06F3/06;G06F12/0882
申请日期：
2021-05-28
申请人：
北京集创北方科技股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备
申请号	CN202110591310.5	申请日期	2021-05-28
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-06	公开/公告号	CN113223597A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;8;;;G;0;6;F;3;/;0;6;;;G;0;6;F;1;2;/;0;8;8;2查看分类表>
申请人	北京集创北方科技股份有限公司	申请人地址	北京市大兴区经济技术开发区景园北街2号56幢8层801(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团) 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京集创北方科技股份有限公司	当前权利人	北京集创北方科技股份有限公司
发明人	李士达;雍尚刚;武甲东
代理机构	北京林达刘知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘新宇

摘要

本公开涉及闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备，该方法包括：从闪存的待测试区域中读取第一数据；根据所述第一数据生成测试向量；根据所述测试向量对闪存进行数据写入操作，使所述待测试区域中存储有第二数据；从所述待测试区域中读取所述第二数据，根据所述第二数据与所述测试向量是否一致，确定针对所述待测试区域的测试结果。根据本申请实施例，可以实现在对待测试区域的功能进行测试时，减少闪存擦除次数，节约时间，提高闪存的使用寿命，还可以防止非待测试区域的数据被误修改。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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