红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201811162653.4
IPC分类号：G06F30/27;G06N20/10;F41G3/00
申请日期：
2018-09-30
申请人：
上海机电工程研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统
申请号	CN201811162653.4	申请日期	2018-09-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-02-01	公开/公告号	CN109299555A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/27	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;2;7;;;G;0;6;N;2;0;/;1;0;;;F;4;1;G;3;/;0;0查看分类表>
申请人	上海机电工程研究所	申请人地址	上海市闵行区元江路3888号（八部）变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海机电工程研究所	当前权利人	上海机电工程研究所
发明人	洪泽华;陆志沣;葛辰杰;乔宇;马潮;余海鸣
代理机构	上海汉声知识产权代理有限公司	代理人	庄文莉

摘要

本发明提供了一种红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统，包括：对每个核函数训练单核SVR，得到输入抗干扰性能指标值和输出综合性能评估值之间的映射关系；获取训练样本，并初始化每个训练样本的权值，初始化回归器F(x)＝0；对每个单核SVR计算回归误差，并选择回归误差最小的最优SVR；计算最优学习器H(j)的权值β(j)，更新回归器F←F+β(j)H(j)；根据最优学习器的权值β(j)更新训练样本的权值，然后归一化所有最优学习器的权值β(j)；返回回归误差计算，直到达到迭代次数。本发明能够在抗干扰评估指标体系下得到综合的抗干扰性能值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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