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通过侧向视角成像来表征样本的高度轮廓

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810837841.6
  • IPC分类号:G01B11/24;G01B11/06
  • 申请日期:
    2018-07-26
  • 申请人:
    安东帕有限责任公司
著录项信息
专利名称通过侧向视角成像来表征样本的高度轮廓
申请号CN201810837841.6申请日期2018-07-26
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-02-26公开/公告号CN109387157A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/24IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人安东帕有限责任公司申请人地址
奥地利格拉茨 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人安东帕有限责任公司当前权利人安东帕有限责任公司
发明人马丁·戈代克-舍恩巴赫尔;阿尔贝托·戈麦斯-卡萨多;丹尼尔·科勒;马库斯·布兰德纳
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人王晖;李丙林
摘要
一种扫描探针显微镜(1),特别是原子力显微镜,用于通过使探针(11)和样本(6)相对于彼此移动来分析样本(6),其中扫描探针显微镜(1)包括:检测单元(60),该检测单元包括侧向视角相机(90),该侧向视角相机被布置和配置为以基本水平的侧向视角来检测样本(6)的图像;以及确定单元(80),该确定单元用于基于检测到的图像来确定指示样本(6)的表面的至少一部分的轮廓的信息。

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