系统化封装集合体

发明专利有效专利

申请号：
CN201810757901.3
IPC分类号：G11C29/12;G11C29/18;G11C29/00
申请日期：
2018-07-11
申请人：
睿力集成电路有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	系统化封装集合体
申请号	CN201810757901.3	申请日期	2018-07-11
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-10-16	公开/公告号	CN108665936A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;1;2;;;G;1;1;C;2;9;/;1;8;;;G;1;1;C;2;9;/;0;0查看分类表>
申请人	睿力集成电路有限公司	申请人地址	安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长鑫存储技术有限公司	当前权利人	长鑫存储技术有限公司
发明人	不公告发明人
代理机构	北京市铸成律师事务所	代理人	陈建焕;武晨燕

摘要

本发明涉及一种系统化封装集合体，包括：动态存储器；非易失性存储器，用于存储针对动态存储器的加扰算法；以及逻辑处理器，与动态存储器和所述非易失性存储器相连接，用于产生测试信息，并根据非易失性存储器中的加扰算法对测试信息进行加扰，并将加扰后的测试信息发送给动态存储器；其中，动态存储器、非易失性存储器和逻辑处理器整合包装在同一封装体中。本发明可以改善SIP中存储器的内置测试，提高测试品质。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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