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基于图像处理的晶片检测系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510036191.8
  • IPC分类号:H01L21/66
  • 申请日期:
    2005-08-01
  • 申请人:
    华南理工大学
著录项信息
专利名称基于图像处理的晶片检测系统
申请号CN200510036191.8申请日期2005-08-01
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2006-04-12公开/公告号CN1758424
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/66IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人华南理工大学申请人地址
广东省广州市天河区五山路381号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华南理工大学当前权利人华南理工大学
发明人戚其丰;胡跃明;廖广军
代理机构广州市华学知识产权代理有限公司代理人李卫东;罗观祥
摘要
本发明是一种基于图像处理的晶片检测系统,包括基座、晶元盘和图像采集卡,基座上安装有X方向步进电机和Y方向步进电机,X方向步进电机和Y方向步进电机分别通过X方向传动丝杆和Y方向传动丝杆与晶元盘相连接,晶元盘上方安装有镜头和光源,镜头通过支架与基座相连接,还通过CCD和数据线与PC机内的图像采集卡相连接,X方向步进电机和Y方向步进电机通过驱动板卡外接PC机。本发明基于Linux,采用SIMD指令集和多线程并行/并发处理,极大提高了处理速度。本发明设计了具有较好抗干扰能力的光源系统,实现图像的稳定采集,可以高速、高精度对晶片进行定位和质量检测。

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