FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410419050.3
IPC分类号：G01R31/00;G01R31/3193
申请日期：
2014-08-22
申请人：
中国科学院空间科学与应用研究中心

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著录项信息

专利名称	FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法
申请号	CN201410419050.3	申请日期	2014-08-22
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2014-12-03	公开/公告号	CN104181421A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;9;3查看分类表>
申请人	中国科学院空间科学与应用研究中心	申请人地址	北京市海淀区中关村南二条1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院国家空间科学中心	当前权利人	中国科学院国家空间科学中心
发明人	朱翔;封国强;韩建伟;姜昱光;上官士鹏;马英起;陈睿;余永涛
代理机构	北京方安思达知识产权代理有限公司	代理人	王宇杨;杨青

摘要

本发明涉及一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，包括：控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；上位机控制模块(12)与控制电路模块(11)连接，控制电路模块(11)连接到可控脉冲激光模块(15)，在测试时，控制电路模块(11)还分别连接到被测FPGA器件(13)以及与被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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