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钴互连件技术

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510849444.7
  • IPC分类号:H01L21/768;H01L23/532
  • 申请日期:
    2015-11-27
  • 申请人:
    台湾积体电路制造股份有限公司
著录项信息
专利名称钴互连件技术
申请号CN201510849444.7申请日期2015-11-27
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-01-25公开/公告号CN106356331A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/768IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;7;6;8;;;H;0;1;L;2;3;/;5;3;2查看分类表>
申请人台湾积体电路制造股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人台湾积体电路制造股份有限公司当前权利人台湾积体电路制造股份有限公司
发明人李雅玲;杨文成;卢一斌
代理机构北京德恒律治知识产权代理有限公司代理人章社杲;李伟
摘要
本发明的一些实施例涉及一种制造集成电路器件的方法。在该方法中,在衬底上方形成介电层。介电层包括布置在介电层内的开口。沿着开口的底部和侧壁表面形成第一钴衬垫。在第一钴衬垫的暴露的表面上形成阻挡衬垫。在开口中并且在阻挡衬垫上方形成块状钴层以填充开口的剩余空间。本发明实施例涉及钴互连件技术。

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