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同轴光检测柱孔圆度和直线度的装置及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201310006580.0
  • IPC分类号:G01B11/24;G01B11/27
  • 申请日期:
    2013-01-08
  • 申请人:
    长春理工大学
著录项信息
专利名称同轴光检测柱孔圆度和直线度的装置及方法
申请号CN201310006580.0申请日期2013-01-08
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2013-04-03公开/公告号CN103017684A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/24IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;2;7查看分类表>
申请人长春理工大学申请人地址
吉林省长春市朝阳区卫星路7089号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长春理工大学当前权利人长春理工大学
发明人董渊;李超;吕彦飞;李述涛;金光勇;张喜和
代理机构长春菁华专利商标代理事务所代理人陶尊新
摘要
同轴光检测柱孔圆度和直线度的装置及方法属于光学检测技术领域。现有技术检测精度低、检测范围窄,还可能损伤被测柱孔表面。本发明之装置在检测激光光源与摄像机之间,可变光阑、挡光环、圆锥透镜、毛玻璃成像屏依次同轴排列;圆锥透镜底面朝向挡光环,圆锥透镜中心有通孔。在本发明之方法中,被测柱孔位于圆锥透镜与毛玻璃成像屏之间并与同轴光同轴,通过调整可变光阑来改变空心光束外壁到内壁的距离,自圆锥透镜锥面出射的空心光束发生汇聚,在被测柱孔不同截面处发生一次反射,在毛玻璃成像屏上先后呈现每个截面的光环图像;该图像由摄像机采集并由计算机处理,最后根据最小二乘圆法先计算得到待测柱孔不同截面处的圆度,再在此基础上得到该柱孔的直线度。

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