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一种光电陶瓷的温度控制实验装置及测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810268920.X
  • IPC分类号:G01N33/38;G01N25/00;G01N21/84;G01N27/00
  • 申请日期:
    2018-03-29
  • 申请人:
    南京航空航天大学
著录项信息
专利名称一种光电陶瓷的温度控制实验装置及测试方法
申请号CN201810268920.X申请日期2018-03-29
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2018-10-12公开/公告号CN108646004A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N33/38IPC分类号G;0;1;N;3;3;/;3;8;;;G;0;1;N;2;5;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4;;;G;0;1;N;2;7;/;0;0查看分类表>
申请人南京航空航天大学申请人地址
江苏省南京市秦淮区御道街29号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京航空航天大学当前权利人南京航空航天大学
发明人郑世杰;张楠;许亮;叶章胜;赵勰;贾满仓;高玉良;李晓玉
代理机构江苏圣典律师事务所代理人贺翔;徐晓鹭
摘要
本发明涉及一种光电陶瓷的温控装置及测试方法,所述温度控制实验装置包括隔震平台、透明温控罩和离心式鼓风机;所述方法可有效地控制光致伸缩驱动器的温度升高,有效控制弯曲变形与光生电压之间的迟滞现象对PLZT性能测试的影响,提高光致伸缩驱动器的驱动性能。

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