自动分辨双路显示工业用金属探测器

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200520041627.8
IPC分类号：G01N22/00;G01N27/00
申请日期：
2005-05-18
申请人：
上海高晶金属探测设备有限公司

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著录项信息

专利名称	自动分辨双路显示工业用金属探测器
申请号	CN200520041627.8	申请日期	2005-05-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N22/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N22/00 利用微波测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 17/00，G01N 24/00优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;2;/;0;0;;;G;0;1;N;2;7;/;0;0查看分类表>
申请人	上海高晶金属探测设备有限公司	申请人地址	上海市杨浦区翔殷路128号11号楼A座101-111室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海高晶检测科技股份有限公司	当前权利人	上海高晶检测科技股份有限公司
发明人	洪坚;吴家荣
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	王敏杰

摘要

本实用新型涉及一种无损电磁检测装置，特别是一种自动分辨双路显示工业用金属探测器。它具有一稳定的超声交变磁场发生器(1)，并具有一差动接收器(2)，该差动接收器(2)连接一应用调制—解调理论的相敏检波器(3)。主要解决现有金属探测仪无法有效检测混杂在药物、食品中的非常微小的金属颗粒，提高检测的精确性，保护人体健康。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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