一种测试LED芯片电性能参数的装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420792028.9
IPC分类号：H01L21/66
申请日期：
2014-12-12
申请人：
华南师范大学

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著录项信息

专利名称	一种测试LED芯片电性能参数的装置
申请号	CN201420792028.9	申请日期	2014-12-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L21/66 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备〔2，8〕 H01L21/66 在制造或处理过程中的测试或测量〔2〕	IPC分类号	H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人	华南师范大学	申请人地址	广东省广州市天河区石牌中山大道西55号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南师范大学	当前权利人	华南师范大学
发明人	潘中良;陈翎
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	苏运贞

摘要

本实用新型公开了一种测试LED芯片电性能参数的装置。该装置包含控制单元、恒流源、恒压源、电压采样单元、电流采样单元、计算机和用于放置被测LED芯片的检测平台；其中，恒流源、恒压源、电压采样单元、电流采样单元和计算机分别与控制单元连接，恒流源、恒压源、电压采样单元和电流采样单元分别与用于放置被测LED芯片的检测平台连接。本实用新型可以有效地提高对LED的正向电流、正向电压、反向电压、反向电流等参数进行检测的处理速度，并且所需的功耗较低。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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