基于透射、反射系数的结构不连续定位方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110379424.X
IPC分类号：G01N29/44;G01N29/04
申请日期：
2011-11-24
申请人：
上海交通大学

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著录项信息

专利名称	基于透射、反射系数的结构不连续定位方法
申请号	CN201110379424.X	申请日期	2011-11-24
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2012-06-13	公开/公告号	CN102495141A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/20 （转入G01N 29/032，G01N 29/11） G01N29/44 处理探测的响应信号〔8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;4;4;;;G;0;1;N;2;9;/;0;4查看分类表>
申请人	上海交通大学	申请人地址	上海市闵行区东川路800号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学	当前权利人	上海交通大学
发明人	范强;冯盟;黄震宇;陈大跃;张鹏鹏;武怀宇
代理机构	上海科盛知识产权代理有限公司	代理人	赵志远

摘要

本发明涉及一种基于透射、反射系数的结构不连续定位方法，包括以下步骤：1)选择识别导波；2)确定波导上需要检测的区间；3)对测量传感器组进行布置，第一组传感器布置于检测区间的左侧，第二组传感器布置于检测区间的右侧；4)利用传感器组进行两次波导动力学信号测量；5)利用测量到的波导动力学信号计算出结构不连续处的测量散射系数，该散射系数为透射系数或反射系数；6)建立结构不连续处预计散射系数模型；7)利用结构不连续处的测量散射系数与预计散射系数模型对波导结构不连续进行识别定位。与现有技术相比，本发明具有解决了传统导波法对结构不连续长距离检测时所选识别导波不能兼顾频散特性和低衰减特性的问题等优点。

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