由多能量X-射线识别材料的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201180040433.4
IPC分类号：G01V5/00;G01N23/087
申请日期：
2011-06-28
申请人：
法国原子能及替代能源委员会

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	由多能量X-射线识别材料的方法
申请号	CN201180040433.4	申请日期	2011-06-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-04-24	公开/公告号	CN103069305A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01V5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01V 地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物（用于指示因事故被掩埋的人的位置，例如，被雪掩埋的人的位置的装置入A63B 29/02）〔4，6〕 G01V5/00 应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性	IPC分类号	G;0;1;V;5;/;0;0;;;G;0;1;N;2;3;/;0;8;7查看分类表>
申请人	法国原子能及替代能源委员会	申请人地址	法国巴黎变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	法国原子能及替代能源委员会	当前权利人	法国原子能及替代能源委员会
发明人	让·林克尔;纪尧姆·贝尔德乔迪;让-马克·丁滕;乔治·戈农;韦罗妮克·勒比费尔
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	李丙林;张英

摘要

披露了一种用于利用X-射线识别材料的装置的校准方法，包括：a）确定至少一种校准材料以及，对于每种校准材料，至少一个该材料的校准厚度，b）对于每种校准材料以及对于每个选定的校准厚度，测量X辐射的衰减或透射系数，c）由所述系数计算统计参数，d）对于每种校准材料以及对于每个校准厚度，确定或计算存在概率分布规律作为所述统计参数的函数。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供