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一种原位双层包覆硅碳负极材料及其制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810553712.4
  • IPC分类号:H01M4/36;H01M4/38;H01M4/62;H01M10/0525
  • 申请日期:
    2018-05-30
  • 申请人:
    天津巴莫科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种原位双层包覆硅碳负极材料及其制备方法
申请号CN201810553712.4申请日期2018-05-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-10-30公开/公告号CN108717973A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01M4/36IPC分类号H;0;1;M;4;/;3;6;;;H;0;1;M;4;/;3;8;;;H;0;1;M;4;/;6;2;;;H;0;1;M;1;0;/;0;5;2;5查看分类表>
申请人天津巴莫科技股份有限公司申请人地址
天津市滨海新区华苑产业园区(环外)海泰大道8号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津巴莫科技股份有限公司当前权利人天津巴莫科技股份有限公司
发明人宋英杰;徐宁;伏萍萍;马倩倩
代理机构天津才智专利商标代理有限公司代理人暂无
摘要
本发明公开了一种原位双层包覆硅碳负极材料及其制备方法,通过亚微米硅和含有羟基的有机溶剂在加热的条件下进行预反应,在亚微米级硅表面原位生成一层致密的二氧化硅包覆层;通过加热溶解以及喷雾干燥等工艺得到有机碳源均匀包覆的粉料;然后通过低温焙烧的方式,保证碳的原位包覆效果,有效避免高温焙烧过程中由于有机碳源软化而导致硅颗粒的黏连烧结,避免后续粉碎过程中对硅包覆层的破坏;最后通过和石墨类负极材料均匀混合以及高温焙烧碳化等手段得到最终产品。本发明包覆层均匀致密不仅可以提高复合材料的电子导电性,而且可以抑制硅的体积膨胀;且由于低温焙烧工艺的引入,抑制了硅颗粒的黏连和烧结;操作简单,成本低廉,适用于产业化生产。

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