一种二极管热阻测量方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010608035.5
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2010-12-21
申请人：
杭州远方光电信息股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种二极管热阻测量方法及装置
申请号	CN201010608035.5	申请日期	2010-12-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-07-06	公开/公告号	CN102116829A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	杭州远方光电信息股份有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州远方光电信息股份有限公司	当前权利人	杭州远方光电信息股份有限公司
发明人	潘建根
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种二极管热阻测量方法及装置，所述测量方法包括：通过温控技术控制被测二极管PN结的温度，得到稳定条件下被测二极管结温和外界参考环境温度(或散热通道参考点温度)之差值，同时测出引起被测二极管结温升高的输入电功率，即可计算出被测二极管的热阻。所述测量装置采用加热/制冷单元和同步快速采样单元，在设定的较高的温度值下，被测二极管结温升高可以忽略时，快速测量被测二极管两端电压幅值。本发明的二极管热阻测量方法和装置，能够实现二极管热阻的精确测量，测量简单快速，操作方便，稳定性好。

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