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一种轴向二极管的外观检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010811162.9
  • IPC分类号:H01L21/66
  • 申请日期:
    2020-08-13
  • 申请人:
    扬州扬杰电子科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种轴向二极管的外观检测方法
申请号CN202010811162.9申请日期2020-08-13
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-11-13公开/公告号CN111933543A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/66IPC分类号H01L21/66查看分类表>
申请人扬州扬杰电子科技股份有限公司申请人地址
江苏省扬州市邗江区平山堂北路江阳创业*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人扬州扬杰电子科技股份有限公司当前权利人扬州扬杰电子科技股份有限公司
发明人刁卫斌;景昌忠;王毅
代理机构扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙)代理人周全
摘要
一种轴向二极管的外观检测方法,包括以下步骤:利用摄像头多角度的拍摄置于取像位置的二极管的照片;利用视觉或图像软件合成上述照片为360度的全景照片;根据全景照片的外观尺寸,识别二极管的本体尺寸是否符合要求;调节全景照片的R、G、B值,根据设定的黑白阈值识别瑕疵点的尺寸,并判定瑕疵点是否符合要求。本发明的外观检测方法,可以通过计算机视觉实现自动化的全面的产品外观检测,可有效替代传统的人工目测筛选,提升了检测效率,准确率高,保证外观品质,有效降低了检测成本,提高生产效率,具有很强的实用性和广泛的适用性。

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