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透明材料的厚度检测方法和装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010104026.2
  • IPC分类号:G01B11/06
  • 申请日期:
    2010-01-25
  • 申请人:
    长春理工大学
著录项信息
专利名称透明材料的厚度检测方法和装置
申请号CN201010104026.2申请日期2010-01-25
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2010-06-30公开/公告号CN101762238A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/06IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人长春理工大学申请人地址
吉林省长春市卫星路7089号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长春理工大学当前权利人长春理工大学
发明人徐熙平;张宁;乔杨
代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司代理人刘芳
摘要
本发明实施例提供了一种透明材料的厚度检测方法和装置,其中装置,包括光学测量系统、光学分析系统和数据处理系统,光学测量系统用于输出宽带光并接收被测透明材料的反射光将其输出到光学分析系统;所述光学分析系统用于对接收到的被测透明材料的反射光进行分析以获取反射峰对应的波长值;所述数据处理系统用于根据所述光学分析系统获取的反射峰对应的波长值获取被测透明材料的厚度。本发明实施例还提供了基于上述装置的透明材料的厚度检测方法。本发明上述实施例提供的透明材料的厚度检测方法和装置,能够实现准确、快速的对透明材料的厚度进行在线测量。

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