探测器输出信号反卷积处理方法研究

发明专利无效专利

申请号：
CN201611166539.X
IPC分类号：G01T1/24
申请日期：
2016-12-16
申请人：
成都理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	探测器输出信号反卷积处理方法研究
申请号	CN201611166539.X	申请日期	2016-12-16
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-05-31	公开/公告号	CN106772541A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/24 用半导体探测器	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;2;4查看分类表>
申请人	成都理工大学	申请人地址	四川省成都市成华区二仙桥东三路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都理工大学	当前权利人	成都理工大学
发明人	洪旭;周建斌;姚剑锋;周伟;费鹏;万文杰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了探测器输出信号反卷积处理方法的研究。该方法与现有方法不同的地方在提出了提取单位冲激响应的数字实现方法，可应用于堆积脉冲探测研究。首先，将半导体探测器输出信号经开关复位型电荷灵敏前置放大器后，输出一系列的阶跃信号，为方便后续电路分析，通常采用C‑R微分电路将阶跃信号成形为负指数信号；然后建立C‑R电路递推方法，恢复得到前置放大器输出信号；最后利用反卷积算法得到入射射线在探测器中产生的单位冲激响应。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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